① 産総研の半導体技術開発概要 14:00–14:15
② 産総研グループの挑戦-AIST SolutionsとOpenSUSIの取り組み 14:15–14:30
③ 先端ロジック半導体パイロットラインとbeyond 2nm世代技術開発 14:30–14:45
④ 先進パワーエレクトロニクス研究センターの活動 14:45–15:00
⑤ 3D集積・先端パッケージング技術開発への取組紹介 15:00–15:15
⑥ センシング技術研究部門の活動 15:15–16:30
⑥-1 15:20–15:30
線幅2μmを実現する極微細印刷と高密度再配線応用
⑥-2 15:30–15:40
ダマシンCMPによる微細再配線層形成技術
⑥-3 15:40–15:50
窒化物及びダイヤモンドのデバイス開発
⑥-4 15:50–16:00
基板中のマイクロクラック深さ推定技術の開発
⑥-5 16:00–16:10
めっきプロセスセンシング技術の開発
⑥-6 16:10–16:30
ライニングタンク(LT)診断技術の開発
ー半導体製造に欠かせない高純度薬液の貯蔵・搬送設備の診断技術ー
ー半導体製造に欠かせない高純度薬液の貯蔵・搬送設備の診断技術ー