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半導体ウェーハプロセスにおいて、ウェーハトレーサビリティに使用されるID(SEMI OCR、T7)読み取り用に開発しました。様々なウェーハプロセスに対応した読み取りアルゴリズムと最適画像を形成するための照明条件を設定する専用光学システムをご提供します。
半導体製造装置および検査装置に搭載可能なウェーハ位置決めソフトウエアです。Vノッチ検出、ウェーハ中心検出、スクライブライン計測、アライメントマーク検出など、各種装置に対応した位置決めのアプリケーションを実現します。
2次元コード(DataMatrix、QRCode)、1次元バーコード(Code39 / Code39 FULLASCII、Code128、ITF、JAN-8/13、EAN-8/13、BC412/IBM412、PDF417/MicroPDF417 他)など、各種IDコードに対応しています。半導体、エレクトロニクス各種装置でも使用される2次元コード読み取りは、難しい条件下でもロバストな読み取り性能を発揮します。
各種装置に必要なマシンビジョンアプリケーション開発を行います。画像処理ライブラリを自社開発できるスキルとソフトウエア開発経験豊富なエンジニアが責任を持って貴社向けのアプリケーションソフトウエアを開発します。一般に広く使用されている画像処理ライブラリの性能、機能をより高めたソフトウエアを求めるお客様には、特定機能を具備したソフトウエア開発にも対応できます。